[조강민 박사과정, 권용휘 박사, Pervaiz Kareem 박사, 신영수 교수 왼쪽부터]
– 수 상 명: 2022 IEEE TSM Best Paper Award – Honorable Mention
– 논문제목: Integrated Test Pattern Extraction and Generation for Accurate Lithography Modeling
– 저 자: 조강민, 권용휘, Pervaiz Kareem, 신영수 교수 (지도교수)
– 저 널 명: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
전기및전자공학부 신영수 교수 연구실 조강민 박사과정과 권용휘 박사 (Synopsys), Pervaiz Kareem 박사 (IMEC)가 IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing (TSM)에서 2022년 ‘Best Paper Award (BPA) – Honorable Mention’상을 수상하였다.
BPA – Honorable Mention은 일 년 동안 해당 저널에 실린 100여편의 논문들 중 3편만이 선정된다.
특히 권용휘 박사와 신영수 교수는 2021년에 해당 저널에서 BPA (단 1편에 시상)를 수상함으로써, 2년 연달아 BPA – Honorable Mention을 수상하는 쾌거를 올렸다.
TSM은 IEEE Electron Devices Society (EDS)에서 출간하며, 전자 소자와 시스템의 manufacture관련 최신 이론과 응용을 다루는 가장 권위있는 저널이다.
