KAIST 전기 및 전자공학 전공 VLSI DTLab(Design Technology Lab) 의 신영수 교수가 2005년 3월 21일부터 23일까지 미국 San Jose에서 개최된 ISQED (International Symposium on Quality Electronic Design) 학회에서 “마스크 재사용을 통한 System-on-a-Chip 설계 비용 감소 기법” 이라는 제목으로 Best Paper Award를 받았다.
‘최우수 논문상(Best Paper Award)’은 VLSI 설계 분야에서의 뛰어난 업적을 인정하여 IEEE Computer Society 산하 관련 분야 전문가들이 수여하는 상으로 신 교수는 ‘고성능, 고집적 SoC를 저가에 제작할 수 있는 새로운 설계방법’을 제안하여 수상의 영예를 안았다.
ISQED는 VLSI 설계의 Manufacturability, Reliability, Design Methodology 등을 다루는 상당히 우수한 학회이며, 올해에는 총 222편의 논문이 제출되어 83편이 채택되어 발표되었다.
* 첨 부 : 신영수 교수 사진 1매, 최우수 논문상 수상개요
* 내용문의 : KAIST 전기 및 전자공학전공 신영수교수연구실
(실험실 042-869-3479)
논문제목 : A Mask Reuse Methodology for Reducing System-on-a-Chip Cost
(마스크 재사용을 통한 System-on-a-Chip 설계 비용 감소 기법)
논문저자 : 신영수 (전기 및 전자공학 전공 교수)
논문내용 : SoC (System-on-a-Chip)와 같은 고집적 회로의 제작비용은 크게 설계비용, 마스크 제작비용, 공정비용 등으로 나눌 수 있는데 반도체 공정기술의 발달과 함께 이 모든 요소들이 급격히 증가하고 있다.
본 논문의 내용은 SoC의 구성요소(코어 또는 IP)들을 사전에 개별적인 마스크로 제작해 둔 다음 칩의 플로어플랜에 따라 마스크 정렬을 통해 전체 칩을 제작하는 방법으로서 설계시간 감소와 마스크 제작비용 절감을 통해 SoC를 저가에 제작할 수 있는 획기적인 방법이다.
최우수 논문상 선정 이유 : 고성능, 고집적 SOC를 저가에 제작할 수 있는 새로운 설계방법을 제안했기 때문이다.
